Spectromètre de Domaine temporel Térahertz

Spectromètre Térahertz dans le domaine temporel 2018 / 12 / 13 caractérisation du graphène et des matériaux 2D onyx est un système sur le marché conçu pour fournir une caractérisation complète et non destructive du graphène, des films minces et d'autres matériaux 2D. Onyx comble l’écart entre les outils macroscopiques et les Nano - outils et peut détecter des signatures allant de 0,5 mm2 à de grandes surfaces (m2), renforçant ainsi le niveau d’industrialisation des matériaux de recherche. Onyx est capable de mesurer la distribution spatiale de la masse de l'échantillon par rapport à d'autres méthodes d'essai à grande surface, telles que la méthode à quatre sondes. Contrairement aux méthodes microscopiques telles que Raman, SEM et TEM, de grandes zones d'échantillons peuvent être rapidement caractérisées avec une résolution spatiale de plusieurs centaines de microns. Mobilité et densité de porteurs onyx améliore constamment ses fonctionnalités pour fournir de nouveaux résultats qui augmentent considérablement son potentiel. Onyx intègre l'analyse de la mobilité et de la densité de porteurs dans ses fonctions précédentes. En une seule mesure, le système fournit précisément les propriétés physiques suivantes: conductivité continue, σDC、 Résistance en courant continu, RDC、 Temps de diffusion des porteurs, mobilité des porteurs, dérive en μ