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Pièce 501b, tour a, batiment de la science et de la technologie, 705 Yishan Road, Xuhui District, Shanghai
Ganvo Industrial (Shanghai) Co., Ltd
Pièce 501b, tour a, batiment de la science et de la technologie, 705 Yishan Road, Xuhui District, Shanghai
Haute performance de * * * *
Dans sa catégorie, le Park xe7 est capable d'apporter * des résultats de mesure à haute résolution à l'échelle nanométrique. Grâce à une architecture unique de microscopie à force atomique, le scanner flexible indépendant des axes XY et Z, le xe7 permet des mesures de balayage lisses, orthogonales et linéaires, permettant * * d'imager et de mesurer les caractéristiques de l'échantillon. De plus, True, unique au parc
Non-Contact ™ Le mode vous apporte également un effet d'image * * * * et la résolution de l'image peut rester intacte après plusieurs scans avec la sonde.
Répondre aux besoins actuels et futurs
Dans le parc
Avec xe7, le présent et l’avenir sont sous votre contrôle. Le Park xe7 est livré avec les modes de mesure * * * du secteur. Ces modèles répondent non seulement à vos besoins actuels, mais tiennent également compte de l'évolution des besoins futurs. En outre, le xe7 a un design ouvert * sur le marché qui vous permet d'intégrer d'autres accessoires et instruments pour répondre à vos besoins de recherche spécifiques.
Facile à utiliser et haute productivité
Park xe7 dispose d'une interface utilisateur graphique simple et d'outils automatisés qui permettent même aux débutants de numériser rapidement des échantillons. Qu'il s'agisse d'une sonde précollimée, d'un changement simple d'échantillon et de sonde, d'une Collimation Laser facile, d'un angle de vision coaxial descendant, d'un contrôle de balayage convivial et d'un traitement logiciel, le xe7 est en mesure de tirer pleinement parti de l'amélioration de l'efficacité de la recherche.
Abordable dépasse le coût du système
Le Park xe7 n'est pas seulement * un microscope à force atomique de qualité de recherche rentable, mais aussi un microscope à force atomique à faible coût d'utilisation *. True dans Park xe7Non-Contact ™ Le mode permet aux utilisateurs de ne pas avoir à changer fréquemment de sonde coûteuse * * et il est livré avec les modes de balayage multiples * de l'industrie pour une excellente compatibilité, ce qui vous permet de mettre à niveau les fonctionnalités du système à tout moment, prolongeant ainsi la durée de vie du produit. Park xe7 avec Park
Toutes les * * technologies de Systems et à un prix très abordable. Le xe7 est également conçu avec beaucoup de soin dans les détails et est idéal pour vous aider à faire vos recherches avec précision et sans dépassement de budget.
Paramètres techniques
XYScanner
Scanner XY flexible à module unique contrôlé en boucle fermée.
Plage de balayage: 50 μm × 50 μm (facultatif)
100 μm × 100 μm, 10 μm × 10 μm)
Z
Scanner
Scanner haute force à guidage flexible
Plage de balayage: 12 μm (25 en option)
μm)
Table d'échantillons
Gamme de travail XY table:
13 × 13 mm
Z gamme de travail:
29.5 mm
Plage de travail de la table de mise au point: 70 mm
Système optique
Système optique coaxial à vision directe pour échantillons et sondes observables
Objectif 10x (20x en option)
Champ de vision: 480×360 μm
CCD: 1m pixels (résolution des pixels: 0,4 μm)
Système de circuits
DSP haute performance
: 600 MHz with 4800 MIPS