Microscope à force atomique Park nx10

Idéal pour la recherche innovante

Le Park nx10 vous apporte des données de haute résolution à l'échelle nanométrique, dignes de confiance, utilisables et possédées. Qu'il s'agisse de la configuration de l'échantillon ou de l'imagerie à balayage complet, de la mesure et de l'analyse, le Park nx10 vous garantit de vous concentrer sur vos efforts de recherche innovants.Fournit également des données de haute précision.

Mesure de haute précision

· détecteur Z à faible bruit pour mesurer avec précision la topographie de surface du microscope à force atomique

· balayage XY précis en éliminant la diaphonie du scanner

· le mode true non - contacttm garantit une durée de vie optimale de la sonde, une numérisation haute résolution et une protection des échantillons

· caractéristiques matérielles et logicielles personnalisées

Détecteur Z à faible bruit pour microscope à force atomique Park nx10

Le détecteur de l'axe Z est l'une des technologies de base de la toute nouvelle série de microscopes à force atomique NX. C'est le capteur de déformation innovant de Park. Avec un faible bruit de 0,2 angström, il devient le détecteur d'axe Z le moins bruyant de l'industrie. Le faible bruit permet aux détecteurs de l'axe Z d'être le signal de topographie par défaut, et les différences entre les nouveaux microscopes à force atomique de la série NX et les générations précédentes peuvent être facilement observées. Si le bruit du détecteur de l'axe Z est trop élevé, l'utilisateur ne peut pas observer les étapes atomiques de la plaque de saphir. Le signal d'altitude émis par les détecteurs de l'axe Z de la série de microscopes à force atomique Park NX a le même niveau de bruit que la topographie de tension de l'axe Z.

Remplacement simple des sondes et des échantillons

La conception exclusive vous permet de remplacer facilement vos nouvelles sondes et échantillons de côté avec vos mains. Avec l'aide d'un porte - à - faux pré - aligné dans une pince de sonde en porte - à - faux montée, il n'est plus nécessaire d'effectuer des travaux d'étalonnage laser compliqués.

Aiguille de proximité automatique rapide comme l'éclair

La fonction d'alimentation automatique de l'échantillon de sonde permet à l'utilisateur de ne pas avoir à intervenir. En surveillant la réaction d'approche de la surface en porte - à - faux,Le Park nx10 est capable de commencer et de terminer automatiquement et rapidement les opérations d'introduction d'échantillons de sonde dans les dix secondes suivant le chargement en porte - à - faux. Le retour d'information rapide du scanner rapide de l'axe Z et le traitement du signal à faible bruit du Contrôleur électronique NX permettent un contact rapide avec la surface de l'échantillon sans intervention de l'utilisateur.

Paramètres techniques du Park nx10

Scanner

Scanner Z

Scanner haute force de guidage flexible

Gamme de scan: 15 µm (30 µm en option)
Niveau de bruit du signal d'altitude: 30 heures
Bande passante 0,5 kHz, rms (typique)

Scanner XY

Guidage flexible contrôlé en boucle ferméeScanner XY

Gamme de scan: 50 µm × 50 µm
(可选10 µm × 10 µm 或 100 µm × 100 µm)

Table d'entraînement

Z gamme de course de la table de déplacement: 25 mm (motorisé)
Focus Sample table gamme de course: 15 mm (motorisé)
Plage de course de la table de déplacement xy: 20 mm x 20 mm (motorized)

Porte - échantillons

Taille de l'échantillonPour:Espace ouvert jusqu'à 100 mm x 100 mm, 厚度 jusqu'à 20 mm
Poids de l'échantillon Pour:< 500 = '' >

Optique

10x (0,23 N.A.) objectif à très longue distance de travail (résolution de 1 µm)
Image coaxiale intuitive de la surface de l'échantillon et du cantilever
Champ de vision: 480×360 µm (avec objectif 10x)
CCD: 1 million de pixels, 5 millions de pixels (facultatif)

Logiciel

SmartScan™

Logiciel spécialisé pour le contrôle du système AFM et l'acquisition de données
Configuration rapide et imagerie facile avec le mode intelligent
Utilisation avancée du mode manuel et contrôle plus précis du scan

XEI

Logiciel d'analyse de données AFM

Électronique

Fonctions intégrées

Amplificateur numérique à verrouillage de phase à 4 canaux
Calibration du coefficient élastique(méthode thermique, facultatif)
DonnéesQ contrôle

Connexion de signaux externes

20 ports d'entrée / sortie intégrés
5 sorties TTL: Eof, EOL, EOP, modulation et polarisation AC