Oxford X - met5100 (analyseur élémentaire XRF portatif)

Le spectromètre de fluorescence X portable X - met5100 garantit la précision de l'analyse de qualité en laboratoire des alliages d'aluminium et de titane, et sa sensibilité à la détection des éléments métalliques légers contenus dans des matériaux métalliques tels que le cuivre, le nickel et l'acier est également inégalée, permettant de mesurer des éléments légers tels que Le magnésium, l'aluminium et le silicium sans l'aide d'une pompe à vide sophistiquée ou d'équipements annexes tels que des réservoirs d'hélium. La puissante combinaison d'un détecteur de dérive de silicium (SDD), d'un tube à rayons X de 45 kV et d'une méthode d'analyse par coefficient empirique permet au X - met5100 d'analyser et de déterminer avec précision la composition d'un alliage métallique en seulement une seconde. Les substances confinées (métaux lourds), le plomb dans les jouets, les contaminants dans le sol et les traces dans les minerais peuvent être mesurés avec précision à une vitesse qui était auparavant impossible. En quelques secondes, on obtient des résultats de détection d'éléments traces de l'ordre du PPM.

• Qualification de fiabilité des matériaux métalliques (PMI)
• Industrie du recyclage des déchets métalliques
• Surveillance environnementale des métaux lourds (sol et ROHS)
• Industrie aéronautique et automobile
• Reconnaissance du minerai, contrôle de l'excavation sur place et cartographie de la mine