Diffractomètre à rayons X de table

Diffractomètre à rayons X de table

Conçu pour la production industrielle, le contrôle de la qualité, la technologie de pointe pour la production de diffractomètres à rayons X concentrés, les diffractomètres à rayons X de table fonctionnalisés et miniaturisés. Capacité à effectuer des analyses qualitatives, quantitatives et cristallines précises d'échantillons métalliques et non métalliques. Il est particulièrement adapté aux catalyseurs, à la poudre blanche de titane, au ciment, à l'industrie pharmaceutique et à d'autres industries de fabrication de produits.

Principaux indicateurs techniques:

● puissance de fonctionnement (tension du tube, courant du tube): 600W (40kv, 15ma) ou 1200w (40kv, 30MA), stabilité: 0005%

● tube à rayons X: tube à rayons X en céramique métallique, cible Cu, puissance 2,4 kW, taille de la mise au point: 1x10 mm

Refroidi à l'air ou à l'eau (débit d'eau supérieur à 2,5 l / min)

● goniomètre: structure θs - θd horizontale de l'échantillon, rayon du cercle de diffraction de 150 mm

● méthode de mesure de l'échantillon: continu, pas à pas, Omg

● plage de mesure angulaire: - 3° - 150° lorsque θs / θd sont couplés

● largeur minimale du pas: 00001°

● reproduction angulaire: 00005°

● vitesse de positionnement angulaire: 1500 ° / min

● compteur: rapport positif fermé ou compteur à semi - conducteur unidimensionnel à grande vitesse

● résolution spectrale: moins de 25%

● taux de comptage linéaire maximal: ≥ 5 × 105 CPS (rapport positif), ≥ 9 × 107 CPS (semi - conducteur unidimensionnel)

● ordinateur: ordinateur portable professionnel Dell

● logiciel de contrôle de l'instrument: système d'exploitation Windows 7, contrôle automatique de la tension du tube, du courant du tube, du photovanne et de la formation au vieillissement du tube à rayons X; Contrôle du goniomètre à balayage continu ou pas à pas, avec acquisition simultanée de données diffractives; Les données de diffraction sont traitées classiquement: recherche de crête automatique, recherche de crête manuelle, intensité intégrée, hauteur de crête, Centre de gravité, déduction de fond, lissage, grossissement de crête, contraste de spectrogramme, etc.

● logiciel de traitement de données: caractérisation de phase matérielle, analyse quantitative, décapage kα1, α2, ajustement de spectrogramme complet, ajustement de pic de sélection, calcul de taille de grain et de demi - hauteur, cytométrie, calcul de contrainte de type II, indexation de lignes de diffraction, cartographie multiple, cartographie 3D, étalonnage de données de diffraction, déduction de fond, analyse quantitative sans étalon et d'autres fonctions, ajustement de spectrogramme complet (WPF), simulation de spectrogramme de diffraction XRD.

● protection contre la dispersion des rayons: protection en verre plomb + plomb, fenêtre de porte optique liée au dispositif de protection, mesure de la ligne de diffusion ne dépassant pas 1 μsv / h

● stabilité intégrée de l'instrument: ≤ 1 ‰

● Données de chargement d'échantillon à la fois: configurez l'échantillonneur pour charger jusqu'à 6 échantillons à la fois

● dimensions extérieures de l'instrument: 600 × 410 × 670 (W × d × h) mm